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VLSI Design and Test

VLSI Design and Test.
22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers.
Urheber: Rajaram, S.; Balamurugan, N.B.; Gracia Nirmala Rani, D.; Singh, Virendra.
Verlag: Springer Singapore. 23,5 x 15,5 cm. 387 Abbildungen, schwarz-weiß, 324 Abbildungen, farbig. Seiten: 722. ISBN-13: 9789811359491.
Erscheinungsdatum: 25.01.2019

Dieses Buch stellt den Schiedsrichterbericht des 22. Internationalen Symposiums über VLSI Design und Test, VDAT 2018, dar, das im Juni 2018 in Madurai, Indien, stattfand. Die 39 vollständigen Papiere und 11 kurzen Papiere, die zusammen mit 8 Posterpapieren präsentiert wurden, wurden sorgfältig geprüft und aus 231 Einreichungen ausgewählt. Die Papiere sind in thematische Abschnitte mit den folgenden Bezeichnungen gegliedert: Digitales Design; Analoges und Mixed-Signal-Design; Hardware-Sicherheit; Mikrobiofluidik; VLSI-Tests; Analoge Schaltungen und Vorrichtungen; Netzwerk-On-Chip; Speicher; Quantencomputer und NoC; Sensoren und Schnittstellen.

Forschung; Informatik; Anwendungen; Tagungsbände